Das Wafer Inspection System WIS ist ein hochwertiges Gerät zum Inspizieren von Wafern. Die Auswahl eines oder mehrerer zu untersuchenden Wafer ist gezielt über ein automatisches Programm oder manuell über eine Bedientaste möglich. Der Wafer wird über ein Wafergreifsegment und eine Hubeinheit nach oben aus dem Carrier herausgehoben und kann wahlweise in verschiedene Richtungen gedreht werden.
Die Bedienung und Konfigurierung des Gerätes sowie die Einrichtung der Programmabläufe lässt sich bedienerfreundlich über ein externes Bedienpanel vornehmen. Ausschließlich hochwertige Materialen werden bei der Herstellung des WIS verwendet. Sie sind die Grundlage für eine lange Lebensdauer und gewährleisten die Betriebssicherheit bei jedem Arbeitsgang. Das WIS ist damit ideal für die Verwendung im Reinraum geeignet.
Bitte geben Sie bei Ihrer Bestellung die Carrierbezeichnung sowie die Wafergröße an. Das Gerät ist für Wafergrößen von 4“ bis 8“ lieferbar.
